AFM - 물성분석실 - 보유장비 및 예약 - 장비소개 및 이용

물성분석실 2. Surface Characterization

AFM Atomic Force Microscope

모델명	Cypher
제조사(제조국)	Oxford Instrument
구입연도(제작연도)	2013-07-18
용도	나노 크기의 원자, 분자 구조물 해석
사용료	유저등록비 및 장비사용료 참고
장소	19-406
비고	AFM tip 미제공, 개별 구매 가능
성능 Head/Optical LeverDeflection Noise <20 pm Bandwidth DC to 7MHz Spot Size 10 x 30 um Scan Range : XY is 30/40um(closed/open loop) Z range is 5/7um(close/open) XYZ sensor noise : XY noise <60pm Z noise <50pm Resolution: Diffraction limited performance(<1um) with apochromatic correction. NA=0.45 Field of view 690 x 920um Based in Igor Pro Scanning Modes : Contact AC Force Dual AC PFM EFM MFM Surface Potential Nanolithography Nanomanipulation Frequency Modulation Operation in fluid Conductive AFM STM Band Excitation

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